- Oggetto:
- Oggetto:
Spettroscopia C
- Oggetto:
Anno accademico 2009/2010
- Docente
- Prof. Giuliana Gervasio (Titolare del corso)
- Corso di studi
- Chimica Industriale
Chimica Industriale - Anno
- 2° anno
- Tipologia
- Caratterizzante
- Crediti/Valenza
- 2
- Oggetto:
Sommario insegnamento
- Oggetto:
Programma
Modulo di Strutturistica diffrattometrica.
Scopi della tecnica.
I raggi X, i neutroni, la luce di sincrotrone. Produzione e usi.
I cristalli. La morfologia. Il reticolo cristallino.Crsiatlli mono- bi- e tri-diemensionali. La cella elementare ed i sistemi cristallini. Differenza fra reticolo e struttura. Gli elementi di simmetria nei cristalli; differenze rispetto agli el. di simm. nelle molecole. I gruppi spaziali, i reticoli di Bravais. Le famiglie di piani cristallografici. Gli indici di Miller.
Interazione raggi X-cristallo. Diffusione, diffrazione e interferenza. Figure di diffrazione. La legge di Bragg. Geometria e intensità di diffrazione. Tecniche: metodo Laue, cristallo singolo, polveri. Risultati delle tecniche ed usi.
Testi consigliati e bibliografia
- Oggetto:
- Dispense del docente
ed i siti web:
www.iucr.org
www.esrf.fr
www.ill.fr - Oggetto:
